Реферат: Вторично-ионная масса спектрометрия

Тимофеев А. Ю.

проверил: Леднева Ф. И.

г. Калуга

1997 год.


Содержание

Введение 3

Взаимодействие ионов с веществом 3

Возможно вы искали - Контрольная работа: Система управления двухкоординатным объектом

Вторично-ионная эмиссия 5

Оборудование ВИМС. 8

Принцип действия установок. 9

Установки, не обеспечивающие анализа распределения частиц по поверхности 10

Установки, позволяющие получать сведения о распределении 11

Похожий материал - Реферат: Оперативно-тактичне обрунтування розробки перспективної радіорелейної станції

элемента по поверхности, со сканирующим ионным зондом

Установки с прямым изображением 11

Порог чувствительности 12

Анализ следов элементов 14

Ионное изображение 16

Очень интересно - Реферат: Проектирование сети офиса банка

Требования к первичному ионному пучку 17

Масс-спектрометрический анализ нейтральных 18

распыленных частиц

Количественный анализ 19

Глубинные профили концентрации элементов 22

Вам будет интересно - Курсовая работа: Проектирование локальной вычислительной сети для организации Коммерческий банк

Приборные факторы, влияющие на разрешение 23

по глубине при измерении профилей концентрации

Влияние ионно-матричных эффектов на разрешение 25

по глубине при измерении профилей концентрации

Применения 26

Похожий материал - Курсовая работа: Микропроцессорная система на базе комплекта КР580

Исследование поверхности 26

Глубинные профили концентрации 27

Распределение частиц по поверхности, 27

микроанализ и объемный анализ