Дипломна робота: 43 сторінок, 12 малюнків, 1 таблиця, 6 джерел.
Об`єктом дослідження є поверхня металевих та напівпровідникових матеріалів за допомогою скануючого електронного мікроскопа.
Методикою досліджень являється реєстрація вторинних електронів та фотонів.
Результати досліджень можуть бути застосовані працівниками, які займаються дослідженнями в області напівпровідникових матеріалів.
RESUME
The graduation research “Using the Scanning Electron Microscopy for diagnostics of a surface of semiconductors ” – 2003, student Lyashenko O.A. (DNU, physical faculty, gr. FP-98-1, department of optoelectronics) leader Klimenko V.V.
Возможно вы искали - Реферат: Изучение свободных колебаний и измерение ускорения свободного падения
The work is interesting for researchs the semiconductor researches.
Bibliography pages 43, Tables 1, Images 12.
Тема:
Изучение поверхности полупроводника с помощью сканирующего электронного микроскопа
Зміст.
Похожий материал - Реферат: Индикаторы
Реферат 4
Resume 5
Вступ. 7
Розділ І. Літературний огляд 8
1. Одержання і керування потоком електронів 8
Очень интересно - Реферат: Интерференция
2. Електростатичні лінзи 10
3. Магнітні лінзи 14
4. Електронно-оптичні дослідження матеріалів 15
5. Звичайний просвітлюючий електронний мікроскоп 16
5.1 Електронна оптика 16
Вам будет интересно - Реферат: Интерференция света
5.2 Зображення 18
5.3 Дозволяюча здатність 19
6. Растровий електронний мікроскоп. Загальні відомості 21
7. Растровий електронний мікроскоп. Технічні відомості 23
7.1 Застосування 23
Похожий материал - Реферат: Инфра и ультра звуки и их использование
7.2 Принцип дії 23
Розділ ІІ. Постановка задачі 26
Розділ ІІІ. Експериментальна частина 27
Висновки 31