Реферат: Вторично-ионная масса спектрометрия

Тимофеев А. Ю.

проверил: Леднева Ф. И.

г. Калуга

1997 год.


Содержание

Введение 3

Взаимодействие ионов с веществом 3

Возможно вы искали - Курсовая работа: Усилитель мощности системы поиска нелинейностей

Вторично-ионная эмиссия 5

Оборудование ВИМС. 8

Принцип действия установок. 9

Установки, не обеспечивающие анализа распределения частиц по поверхности 10

Установки, позволяющие получать сведения о распределении 11

Похожий материал - Реферат: Усилитель промежуточной частоты

элемента по поверхности, со сканирующим ионным зондом

Установки с прямым изображением 11

Порог чувствительности 12

Анализ следов элементов 14

Ионное изображение 16

Очень интересно - Реферат: Двухзеркальная антенна по схеме Кассергена

Требования к первичному ионному пучку 17

Масс-спектрометрический анализ нейтральных 18

распыленных частиц

Количественный анализ 19

Глубинные профили концентрации элементов 22

Вам будет интересно - Реферат: Усилитель широкополосный

Приборные факторы, влияющие на разрешение 23

по глубине при измерении профилей концентрации

Влияние ионно-матричных эффектов на разрешение 25

по глубине при измерении профилей концентрации

Применения 26

Похожий материал - Реферат: Устройства защиты громкоговорителей

Исследование поверхности 26

Глубинные профили концентрации 27

Распределение частиц по поверхности, 27

микроанализ и объемный анализ